ИК‐микроскоп Spotlight 200i отличает полная автоматизация управления прибором и установки параметров анализа, включая функцию автоматической фокусировки, автоматическую установку апертуры, автоцентрирование образца, автоматический подбор уровня освещенности, автоматическое управление картированием образца и т.д. Всё управление прибором осуществляется с персонального компьютера.

Компьютерное управление перемещением предметного столика микроскопа позволяет проводить картирование поверхности образца с использованием автоматического НПВО зонда. Управление системой и обработка полученных данных производится с помощью специализированных функций базового ПО Spectrum 10, а также с помощью специализированного ПО Image. Отличительными особенностями данной системы являются не только самые высокие технические характеристики среди всех ныне существующих систем для ИК‐микроскопии, но и возможность ее достройки до системы ИК‐изображения Spotlight 400 на рабочем месте пользователя без существенной переделки прибора. Система может оснащаться дополнительным дьюаром, что позволяет существенно увеличить время работы прибора между заправками жидким азотом и специальным боксом для создания особой атмосферы в рабочей области прибора.

Ключевые особенности:

• Лучшие в своем классе технические характеристики

• Полная интеграция ИК‐микроскопа и ИК‐Фурье спектрометров Spectrum One, 65, 100, 400, Frontier и Spectrum Two

• Возможность дооснастить до системы ИК‐изображения
  
  

Технические характеристики:

• Принцип: высокоточный ИК‐микроскоп с оптикой Кассэгрэйна и автоматическим управлением. Быстро сканирующий ИК‐Фурье спектрометр, интегрированный с ИК‐микроскопом

• Режимы работы: пропускание, отражение, микро‐НПВО

• Апертура: автоматическая, позволяет наблюдать объекты до 10мкм.

• LED осветитель высокой интенсивности

• Площадь образца 750х50 мм, шаг сканирования 1 мкм

• Спектральный диапазон: 8300 – 550 см-1, с детектором DTGS 8300–400 см-1

• Детекторы: МСТ, DTGS, InGaAs

• Отношение Сигнал/Шум: лучше, чем 40000:1

• Аксессуары: комплект для работы с микрообразцами, принадлежности для ИК‐микроскопии, комплект поляризационных фильтров в видимом и ИК‐диапазоне, нагреваемый столик, алмазная ячейка, автоматический НПВО зонд µATR кристаллы Si и Ge для НПВО зонда и др.